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  • 首頁 研究隊伍 人才庫

    • 姓名:韋家駒
    • 性別:
    • 專家類別:高級工程師
    • 學歷:研究生畢業
    • 電話:
    • 傳真:
    • 職務:
    • 電子郵件:weijj@pmo.ac.cn
    • 所屬部門:暗物質和空間天文研究部
    • 通訊地址:(210023)南京市棲霞區元化路10號

      簡  歷:

    • 男,1983出生,現任中國科學院紫金山天文臺高級工程師。2006年和2008年于南京理工大學電子工程與光電技術學院獲工學學士學位和工學碩士學位,2012年于東南大學信息科學與工程學院獲工學博士學位。2012年至2013年于華為技術有限公司擔任研究工程師,2014年至今在紫金山天文臺工作,歷任助理研究員、高級工程師。研究方向為空間高能探測技術,目前重點研究半導體探測器技術,包括探測器設計和建模、電子學讀出、半導體封裝測試、數據處理等方面。主持并參與多項國家級項目,發表論文十余篇。

      社會任職:

    •  

      研究方向:

    • 天文技術與方法

      承擔科研項目情況:

      代表論著:

    • [1] J. Wei and Z. Wang, "Frequency-Independent T Equivalent Circuit for On-Chip Spiral Inductors," Electron Device Letters, IEEE, vol. 31, no. 9, pp. 933-935, 2010.
      [2] J. Wei, Z. Wang, Z. Li, Q. Li, and W. Li, "A frequency-independent equivalent circuit model for planar symmetric balun in CMOS RFICs," in Microwave and Millimeter Wave Technology (ICMMT), pp. 706-709, 2010.
      [3] J. Wei and Z. Wang, "Characterization of on-chip balun with patterned floating shield in 65 nm CMOS," Journal of Semiconductors, vol. 32, no. 10, 2011.
      [4] J. Wei, Z. Wang, and Z. Li, "Direct extraction of equivalent circuit parameters for on-chip spiral transformers," Journal of Semiconductors, vol. 33, no. 1, 2012.
      [5] J. Wei, Z. Wang, Z. Li, and L. Tang, "Analysis and modeling of on-chip transformers under two ground conditions," Journal of Semiconductors, vol. 33, no. 6, 2012.
      [6] J. Wei, Z. Wang, Z. Li, and L. Tang, "A new equivalent circuit model for on-chip spiral transformers in CMOS RFICs," Journal of Semiconductors, vol. 33, no. 5, 2012.
      [7] 韋家駒, "用于空間天文的硅微條探測器原型樣機研制," 核技術, vol. 41, no. 12, pp. 120402-120402, 2018.
      [8] 張永強, 郭建華, 韋家駒, and 張巖, "大面積硅微條探測器在軌數據壓縮算法的設計與實現," 天文學報, vol. 60, no. 6, pp. 36-48, 2019.
      [9] J.-J. Wei, J.-H. Guo, and Y.-M. Hu, "Characterization of silicon microstrip sensors for space astronomy," Nuclear Science and Techniques, vol. 31, no. 10, p. 97, 2020.
      [10] 賀躍光, 韋家駒, and 郭建華, "一種低噪聲硅微條探測器讀出電子學系統的設計," 天文學報, vol. 63, no. 6, p. 65, 2022.

      專利申請:

      獲獎及榮譽:

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